View micro-metrology Revisione

A proposito di View micro-metrology

Visualizza Micro-Metrology: il principale produttore di sistemi di misurazione dimensionale critica

Visualizza Micro-Metrology è un rinomato produttore di sistemi di misurazione dimensionale ad alte prestazioni. Con oltre due decenni di esperienza nel settore, l'azienda si è affermata come leader nella metrologia ottica, nelle macchine di misura video, negli oscilloscopi di misura, nella misura di dimensioni critiche, nella metrologia senza contatto, nella metrologia con sonda, nella misura di connettori, nella metrologia su disco rigido, HDD metrologia delle sospensioni, metrologia WLP e metrologia dei telefoni cellulari.

L'impegno dell'azienda per la qualità e l'innovazione le ha fatto guadagnare una reputazione di eccellenza tra i suoi clienti. I prodotti VIEW sono progettati per soddisfare i requisiti più esigenti delle applicazioni di ingegneria di precisione in vari settori come la produzione di semiconduttori e l'ingegneria automobilistica.

Metrologia ottica

I sistemi di metrologia ottica di VIEW sono progettati per fornire misurazioni accurate per geometrie complesse con elevata ripetibilità. Questi sistemi utilizzano algoritmi avanzati che consentono loro di misurare anche le caratteristiche più piccole con una precisione inferiore al micron. I microscopi ottici di VIEW possono essere utilizzati per l'analisi della rugosità superficiale e le misurazioni della topografia 3D.

Macchine di misurazione video

VIEW produce macchine di misura video che offrono misurazioni rapide e precise per parti complesse. Queste macchine utilizzano un software avanzato che consente loro di misurare più caratteristiche contemporaneamente con elevata precisione. Le macchine di misura video di VIEW possono essere utilizzate per il controllo dimensionale di componenti come ingranaggi o cuscinetti.

Ambiti di misurazione

VIEW offre una gamma di ambiti di misurazione che forniscono misurazioni precise in aree difficili da raggiungere. Questi cannocchiali sono dotati di ottiche avanzate che consentono loro di acquisire immagini nitide anche in condizioni di scarsa illuminazione. Gli oscilloscopi di misurazione di VIEW possono essere utilizzati per attività di ispezione come ispezioni di saldature o ispezioni di pale di turbine.

Misurazione di dimensioni critiche

VIEW produce sistemi di misurazione delle dimensioni critiche che offrono misurazioni precise per piccole caratteristiche su wafer semiconduttori o altri componenti di precisione. Questi sistemi utilizzano algoritmi avanzati che consentono loro di misurare anche le caratteristiche più piccole con una precisione sub-nanometrica.

Metrologia senza contatto

I sistemi di metrologia senza contatto di VIEW sono progettati per fornire misurazioni accurate senza toccare la superficie della parte da misurare. Questi sistemi utilizzano ottiche avanzate che consentono loro di acquisire immagini nitide di geometrie complesse con elevata ripetibilità. I sistemi di metrologia senza contatto di VIEW possono essere utilizzati per attività di ispezione come la misurazione dello spessore di film sottili o il rilevamento di difetti sulle superfici.

Metrologia della carta della sonda

VIEW produce sistemi di metrologia per schede sonda che offrono misurazioni precise per il test dei wafer semiconduttori. Questi sistemi utilizzano algoritmi avanzati che consentono loro di misurare anche le caratteristiche più piccole con una precisione inferiore al micron. I sistemi di metrologia delle schede sonda di VIEW possono essere utilizzati per attività di ispezione come la misurazione della resistenza di contatto o il rilevamento di difetti sulle schede sonda.

Misura del connettore

VIEW offre una gamma di soluzioni di misurazione dei connettori che forniscono misurazioni precise per i connettori utilizzati in vari settori come l'ingegneria automobilistica e aerospaziale. Queste soluzioni utilizzano un software avanzato che consente loro di misurare più caratteristiche contemporaneamente con elevata precisione.

Metrologia del disco rigido

VIEW produce soluzioni di metrologia per dischi rigidi che offrono misurazioni precise per i componenti dei dischi rigidi come cursori e sospensioni. Queste soluzioni utilizzano algoritmi avanzati che consentono loro di misurare anche le caratteristiche più piccole con una precisione sub-nanometrica.

Metrologia della sospensione dell'HDD

VIEW offre una gamma di soluzioni di metrologia delle sospensioni HDD che forniscono misurazioni precise per i componenti delle sospensioni utilizzati nelle unità disco rigido. Queste soluzioni utilizzano un software avanzato che consente loro di misurare più caratteristiche contemporaneamente con elevata precisione.

Metrologia WLP

VIEW produce soluzioni metrologiche WLP (wafer level packaging) che offrono misurazioni precise per wafer semiconduttori durante i processi di confezionamento. Queste soluzioni utilizzano algoritmi e ottiche avanzati, consentendo loro di misurare anche le caratteristiche più piccole con una precisione inferiore al micron.

Metrologia del telefono cellulare

VIEW offre soluzioni di metrologia per telefoni cellulari progettate specificamente per i produttori di telefoni cellulari che richiedono capacità di misurazione di precisione durante i processi di produzione. Le metrologie per telefoni cellulari di VIEW sono dotate di tecnologia all'avanguardia, che consente risultati di misurazione accurati ad alta velocità.

Conclusione

View Micro-Metrology è un produttore leader di sistemi di misurazione dimensionale critici. L'impegno dell'azienda per la qualità e l'innovazione le ha fatto guadagnare una reputazione di eccellenza tra i suoi clienti. I prodotti VIEW sono progettati per soddisfare i requisiti più esigenti delle applicazioni di ingegneria di precisione in vari settori come la produzione di semiconduttori e l'ingegneria automobilistica. Con oltre due decenni di esperienza nel settore, VIEW continua a innovare e fornire soluzioni all'avanguardia che consentono ai propri clienti di raggiungere i propri obiettivi con precisione e accuratezza.